主要功能

晶体衍射角的测定。用于材料样品鉴定，物相的定性、定量分析、晶格常数分析；金属薄弱点的应力分析。

主要配件

规格参数

生产厂家：荷兰帕纳科
型号：Aeris
年份：2019

技术指标

1.X射线高压发生器：输出功率≥300W 最大电压≥40KV
2.X射线光管材料：全金属陶瓷（可精密加工以实现预校准模块化设计）
Cu靶 1.8KW；最大电压：60KV；最大电流：55mA
3.测角仪:转动方式：/ 模式（样品水平放置，X射线光管及探测器转动。）；定位方式: 光学编码盘，直接光学定位系统（安装于衍射仪的大齿轮上）；驱动方式：直流马达驱动 ；角度重现性：±0.0001；最小步进：≤0.001°
4.基本光学系统：发散狭缝1套：4，2，1，1/2，1/4，1/8，1/16，1/32；索拉狭缝（入射光路及衍射光路各1个）：0.04rad。
5.样品台：样品台自旋，换样时无需打开仪器门；六位自动进样系统
6.探测器：矩阵式（阵列式）；子探测器个数≥65000个；像素大小≤55m
探测器最大计数＞3x1010cps；工作方式：0维（点探测器模式），1维（阵列探测器模式）；分辨率＜0.04 2（NIST660a样品）