扫描电子显微镜
李海涛
022-23314806
天津市半导体技术研究所有限公司(天津市理化分析中心有限公司)
天津市和平区成都道116号(云南路门)
8:30-17:00
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物质表面形貌观察分析,表面元素成分分析
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主要功能
物质表面形貌观察分析,表面元素成分分析。样品材料显微形貌观察,微区化学成分分析,镀层表面形貌观察,微米级镀层厚度测量。在观察形貌的同时,进行微区的成分分析。可定性、半定量检测大部分元素(B5- Am95),可进行表面污染物的分析,焊点、镀层界面组织成分分析。
主要配件
规格参数
生产厂家:荷兰飞纳
型号:Phenom XL
年份:2020
技术指标
1.内置集成可调焦彩色光学显微镜(非CCD相机或摄像头)。电子放大100,000倍
2.仪器分辨率:二次电子探测器分辨率≤9nm@10KV
3.加速电压.5-15kV连续可调,高级模式加速电压4.8-20kV连续可调。
4.高级模式束斑直径0-5.5大小连续可调。
5.灯丝材料:CeB6。
6.电子舱真空封锁,每次换样抽真空时间<35s。
7.样品实时观测分辨率图像像素可选456、684、912、1024模式;
8.全自动马达样品台控制;可容纳36个直径12mm的样品。
9.真空系统:配置涡轮分子泵和无油隔膜干泵
10.观察模式:全面模式、形貌模式和二次电子模式。
11.配置四分割背散射电子探测器和高真空二次电子探测器
12. 完全内置型EDS 探测器;
13.元素探测范围:B(5)~ Am(95)
14.能量分辨率: ≤135eV(Mn Ka)